摘要：DB34/T 3368.5-2019标准2019年07月01日发布2019年09月01日实施，本部分规定了电感耦合等离子体原子发射光谱法测定印制电路板中汞含量的方法原理、试剂、仪器设备、样品制备、分析步骤、结果计算、精密度、报告。 本部分适用于印制电路板中汞含量的测定。 方法检出限为 5 mg/kg。中文标题为《印制电路板中有害物质分析方法第 5 部分：汞含量的测定 电感耦合等离子体光谱法》
分类：制造业
更新：2025-01-15最后编辑
名称：DB34/T 3368.5-2019 印制电路板中有害物质分析方法第 5 部分：汞含量的测定 电感耦合等离子体光谱法
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