SJ/T 11706-2018

摘要:SJ/T 11706-2018标准2018年02月09日发布2018年04月01日实施,中文标题为《半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法》

分类:信息传输、软件和信息技术服务业

更新:2025-01-16最后编辑

SJ/T 11706-2018 半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法

名称:SJ/T 11706-2018 半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法

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