摘要:GB/T 36474-2018标准2018年06月07日发布2019年01月01日实施,此标准规定了半导体集成电路第三代双倍数据速率同步动态随机存储器(DDR3SDRAM)功能验证和电参数测试的方法。此标准适用于半导体集成电路领域中第三代双倍数据速率同步动态随机存储器(DDR3SDRAM)功能验证和电参数测试。国家标准《半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 (DDR3 SDRAM)测试方法》由TC599(全国集成电路标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为工业和信息化部(电子)。
分类:电子学
更新:2025-01-16最后编辑
名称:GB/T 36474-2018 半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 (DDR3 SDRAM)测试方法
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