GB/T 35007-2018

摘要:GB/T 35007-2018标准2018年03月15日发布2018年08月01日实施,此标准规定了半导体集成电路低电压差分信号(LVDS,low voltage differential signaling)电路(以下称为“器件”)静态参数、动态参数测试方法的基本原理。此标准适用于低电压差分信号电路静态参数、动态参数的测试。国家标准《半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法》由TC599(全国集成电路标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为工业和信息化部(电子)。

分类:电子学

更新:2025-01-16最后编辑

GB/T 35007-2018 半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法

名称:GB/T 35007-2018 半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法

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