摘要:GB/T 36477-2018标准2018年06月07日发布2019年01月01日实施,此标准规定了半导体集成电路快闪存储器电参数、时间参数和存储单元功能测试的基本方法。此标准适用于半导体集成电路领域中快闪存储器电参数、时间参数和存储单元功能的测试。国家标准《半导体集成电路 快闪存储器测试方法》由TC599(全国集成电路标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为工业和信息化部(电子)。
分类:电子学
更新:2025-01-16最后编辑
名称:GB/T 36477-2018 半导体集成电路 快闪存储器测试方法
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