GB/T 4937.12-2018

摘要：GB/T 4937.12-2018标准2018年09月17日发布2019年01月01日实施，GB/T4937的本部分的目的是测定在规定频率范围内，振动对器件的影响。本试验是破坏性试验，通常用于有空腔的器件。本试验与GB/T2423.10-2008基本一致，但鉴于半导体器件的特殊要求，采用本部分的条款。国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分：扫频振动》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。