摘要:GB/T 30868-2014标准2014年07月24日发布2015年02月01日实施,此标准规定了利用熔融氢氧化钾腐蚀法测定碳化硅单晶微管密度的方法。此标准适用于碳化硅单晶微管密度的测定。国家标准《碳化硅单晶片微管密度的测定 化学腐蚀法》由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口上报,TC203SC2(全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会)执行,主管部门为国家标准化管理委员会。
分类:电气工程
更新:2025-01-15最后编辑
名称:GB/T 30868-2014 碳化硅单晶片微管密度的测定 化学腐蚀法
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