T/IAWBS 014-2021

摘要:T/IAWBS 014-2021标准2021年09月15日发布2021年09月22日实施,随着科技的发展和进步,第三代半导体材料碳化硅(SiC)取得了令人瞩目的成就,所研发的碳化硅器件的性能指标远超当前硅基器件,并且成功实现了部分碳化硅器件的产业化,在一些重要的能源…《碳化硅单晶抛光片位错密度的测试方法》团体名称为中关村天合宽禁带半导体技术创新联盟。

分类:C398 电子元件及电子专用材料制造

更新:2025-01-15最后编辑

T/IAWBS 014-2021 碳化硅单晶抛光片位错密度的测试方法

名称:T/IAWBS 014-2021 碳化硅单晶抛光片位错密度的测试方法

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