GB/T 11685-2003

摘要：GB/T 11685-2003标准2003年07月07日发布2004年01月01日实施，此标准规定了半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪主要特性的测量方法。此标准适用于半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪主要性能的测量。国家标准《半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法》由TC30（全国核仪器仪表标准化技术委员会）归口上报，TC30SC1（全国核仪器仪表标准化技术委员会通用核仪器和辐射探测器分会）执行，主管部门为国家标准化管理委员会。