GB/T 14140-2009

摘要:GB/T 14140-2009标准2009年10月30日发布2010年06月01日实施,u3000u3000此标准规定了用光学投影仪测量硅片直径的方法。 u3000u3000此标准适用于测量圆形硅片的直径,可测最大直径为Φ300mm。此标准不适用于测量硅片的不圆度。国家标准《硅片直径测量方法》由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口上报,TC203SC2(全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会)执行,主管部门为国家标准化管理委员会。

分类:电气工程

更新:2025-01-14最后编辑

GB/T 14140-2009 硅片直径测量方法

名称:GB/T 14140-2009 硅片直径测量方法

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