摘要:GB/T 13387-2009标准2009年10月30日发布2010年06月01日实施,u3000u3000基准面长度对于半导体加工过程中使用材料的适应性是一项重要的参数。晶片自动操作设备被广泛应用于半导体制造业中,它们是通过晶片主参考面识别和定位获得正确的对准。国家标准《硅及其它电子材料晶片参考面长度测量方法》由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为国家标准化管理委员会。
分类:电气工程
更新:2025-01-14最后编辑
名称:GB/T 13387-2009 硅及其它电子材料晶片参考面长度测量方法
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