GB/T 42969-2023

摘要：GB/T 42969-2023标准2023年09月07日发布2024年01月01日实施，此标准描述了元器件位移损伤的试验方法。此标准适用于光电集成电路和分立器件，如电荷耦合器件（CCD)、光电A合器、图像敏感器（APS)，光敏管等，用质子、中子进行位移损伤辐照试验。其他元器件的位移损伤辐照试验参照进行。国家标准《元器件位移损伤试验方法》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。