摘要:GB/T 4937.23-2023标准2023年05月23日发布2023年12月01日实施,此标准描述了随时间的推移,偏置条件和温度对固态器件影响的试验方法。该试验以加速寿命模式模拟器件工作,主要用于器件的鉴定和可靠性检验。短期的高温偏置寿命通常称之为老炼,可用于筛选试验中剔除早期失效产品。此标准未规定老炼的详细要求和应用。国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第23部分:高温工作寿命》由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为工业和信息化部(电子)。
分类:电子学
更新:2025-01-17最后编辑
名称:GB/T 4937.23-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第23部分:高温工作寿命
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