GB/T 42706.2-2023

摘要:GB/T 42706.2-2023标准2023年05月23日发布2023年09月01日实施,此标准描述了电子元器件在实际贮存条件下随时间推移的退化机理和退化方式,以及评估一般退化机理的试验方法。通常此标准与IEC 62435-1一起使用,用于预计贮存时间超过12个月的长期贮存器件。特定类型电子元器件的退化机理在IEC 62435-5~IEC 62435-9中加以规定。国家标准《电子元器件 半导体器件长期贮存 第2部分:退化机理》由TC599(全国集成电路标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为工业和信息化部(电子)。

分类:电子学

更新:2025-01-17最后编辑

GB/T 42706.2-2023 电子元器件 半导体器件长期贮存 第2部分:退化机理

名称:GB/T 42706.2-2023 电子元器件 半导体器件长期贮存 第2部分:退化机理

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