GB/T 8760-2020

摘要:GB/T 8760-2020标准2020年09月29日发布2021年08月01日实施,此标准规定了砷化镓单晶位错密度的测试方法。此标准适用于{100}、{111}面砷化镓单晶位错密度的测试,测试范围为0cm-2~100000cm-2。国家标准《砷化镓单晶位错密度的测试方法》由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口上报,TC203SC2(全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会)执行,主管部门为国家标准化管理委员会。

分类:冶金

更新:2025-01-17最后编辑

GB/T 8760-2020 砷化镓单晶位错密度的测试方法

名称:GB/T 8760-2020 砷化镓单晶位错密度的测试方法

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