GB/T 34893-2017

摘要:GB/T 34893-2017标准2017年11月01日发布2018年05月01日实施,此标准规定了基于光学干涉显微镜获取MEMS微结构表面形貌进行面内长度测量的方法。此标准适用于表面反射率不低于4%,宽深比不低于1:10,且使用光学干涉显微镜能够获取形貌的MEMS微结构。国家标准《微机电系统(MEMS)技术 基于光学干涉的MEMS微结构面内长度测量方法》由TC336(全国微机电技术标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为国家标准化管理委员会。

分类:电子学

更新:2025-01-16最后编辑

GB/T 34893-2017 微机电系统(MEMS)技术 基于光学干涉的MEMS微结构面内长度测量方法

名称:GB/T 34893-2017 微机电系统(MEMS)技术 基于光学干涉的MEMS微结构面内长度测量方法

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