摘要：SJ/T 11586-2016标准2016年01月15日发布2016年06月01日实施，中文标题为《半导体器件10KeV低能X射线总剂量辐照试验方法》
分类：电子
更新：2025-01-16最后编辑
名称：SJ/T 11586-2016 半导体器件10KeV低能X射线总剂量辐照试验方法
本文来自AI建筑网整理分享，转载链接：https://www.aijianzhu.com/page/151660.html
摘要：SJ/T 11586-2016标准2016年01月15日发布2016年06月01日实施，中文标题为《半导体器件10KeV低能X射线总剂量辐照试验方法》
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名称：SJ/T 11586-2016 半导体器件10KeV低能X射线总剂量辐照试验方法
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