GB/T 4937.3-2012

摘要：GB/T 4937.3-2012标准2012年11月05日发布2013年02月15日实施，GB/T 4937的本部分的目的是验证半导体器件的材料、设计、结构、标志和工艺质量是否符合适用的采购文件的要求。外部目检是非破坏性试验,适用于所有的封装类型。本试验用于鉴定检验、过程监控、批接收。国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分：外部目检》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。