GB/T 30654-2014

摘要：GB/T 30654-2014标准2014年12月31日发布2015年09月01日实施，此标准规定了利用高分辨X射线衍射测试族氮化物外延片晶格常数的方法。此标准适用于在氧化物衬底（A120、ZnO等）或半导体衬底（GaN、Si、GaAs、SiC等）上外延生长的氮化物（Ga，In，A1）N单层或多层异质外延片晶格常数的测量。其他异质外延片晶格常数的测量也可参考此标准。国家标准《Ⅲ族氮化物外延片晶格常数测试方法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为国家标准化管理委员会。