摘要:GB/T 17444-2013标准2013年11月12日发布2014年04月15日实施,此标准对红外焦平面阵列特性参数及相关量进行了定义。此标准给出了红外焦平面阵列特性参数的测试方法及测试条件。此标准适用于线列和面阵红外焦平面阵列。国家标准《红外焦平面阵列参数测试方法》由339-1(工业和信息化部(电子))归口上报及执行,主管部门为工业和信息化部(电子)。
分类:电子学
更新:2025-01-15最后编辑
名称:GB/T 17444-2013 红外焦平面阵列参数测试方法
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