GB/T 13221-2004

摘要:GB/T 13221-2004标准2004年09月29日发布2005年04月01日实施,此标准规定了利用X射线小角散射效应测定纳米粉末粒度分布的方法。此标准适用于测定颗粒尺寸在1nm~300nm范围内的粉末的粒度分布,对于无机、有机溶胶及生物大分子粒度的测定,也可参照执行。当粉末的颗粒形状偏离球形时,本方法给出的为等效散射球直径。本方法不适用于由不同材质的颗粒组成的混合粉末;一般也不适用于有微孔存在的粉末,但当微孔尺寸为纳米级而颗粒(或骨架)尺寸在0.5μm以上时,可以用来测定相应的孔径分布。国家标准《纳米粉末粒度分布的测定 X射线小角散射法》由TC243(全国有色金属标准化技术委员会)归口上报,TC243SC4(全国有色金属标准化技术委员会粉末冶金分会)执行,主管部门为中国有色金属工业协会。

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更新:2025-01-14最后编辑

GB/T 13221-2004 纳米粉末粒度分布的测定  X射线小角散射法

名称:GB/T 13221-2004 纳米粉末粒度分布的测定 X射线小角散射法

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