摘要:T/SZMES 3-2021标准2021年05月28日发布2021年06月01日实施,本文件规定了一种基于基片弯曲法的薄膜应力测定的术语和定义,包括:基片、薄膜、试样、厚度、镀膜、物理气相沉积技术、曲率半径。测量原理:测量基片在单面镀膜前后的曲率半径,基片初始曲…《薄膜应力测定 基片弯曲法》团体名称为深圳市机械工程学会。
分类:C336 金属表面处理及热处理加工
更新:2025-01-15最后编辑
名称:T/SZMES 3-2021 薄膜应力测定 基片弯曲法
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