摘要:GB/T 15651.3-2003标准2003年11月24日发布2004年08月01日实施,本部分适用于光电子器件的测试方法,用于光纤系统或子系统的除外。国家标准《半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法》由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为工业和信息化部(电子)。
分类:电子学
更新:2025-01-14最后编辑
名称:GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法
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