摘要:GB/Z 26083-2010标准2011年01月10日发布2011年10月01日实施,本指导性技术文件规定了利用扫描隧道显微镜检测八辛氧基酞菁铜分子在石墨表面吸附结构的原理、术语及定义、探针和基底制备、样品制备、测试条件、测试步骤、图像分析以及结果表示等。本指导性技术文件适用于在常温(10℃~35℃)和1个大气压环境条件下,用扫描隧道显微镜测试八辛氧基酞菁铜分子在石墨表面的吸附结构。注;八辛氧基酞菁铜分子[copper(Ⅱ)octaalkoxyl-substituted phthalocyanine,简写为CuPcOC8,化学结构见图2)是酞菁类分子中的一种,应用于光电等研究领域.国家标准《八辛氧基酞菁铜分子在石墨表面吸附结构的测试方法(扫描隧道显微镜)》由TC279(全国纳米技术标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为中国科学院。
分类:计量学和测量、物理现象
更新:2025-01-14最后编辑
名称:GB/Z 26083-2010 八辛氧基酞菁铜分子在石墨表面吸附结构的测试方法(扫描隧道显微镜)
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