GB/T 25758.4-2010

摘要：GB/T 25758.4-2010标准2010年12月23日发布2011年10月01日实施，GB／T 25758的本部分规定了采用清晰边缘的射线照相底片，来校验管电压最高至500 kv的工业X射线系统的大于0.5mm焦点尺寸的方法。X射线图像的像质和分辨力很大程度上取决于焦点的特性。焦点成像质量基于目标平面的二维强度分布。边缘方法对于在现场条件下校验焦点是特别有效，以发现焦点的变化。本方法不能用于焦点尺寸的绝对测量。焦点尺寸的绝对测量方法见附录A。国家标准《无损检测 工业X射线系统焦点特性 第4部分：边缘方法》由TC56（全国无损检测标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为国家标准化管理委员会。