GB/T 25185-2010

摘要：GB/T 25185-2010标准2010年09月26日发布2011年08月01日实施，此标准以最少量的资料描述了用X射线光电子能谱测量绝缘样品内能级结合能，及将在报告其分析结果时所采用的荷电控制和荷电校正方法，也给出了在结合能测量过程中对于荷电控制和荷电校正有用的方法资料。国家标准《表面化学分析 X射线光电子能谱 - 荷电控制和荷电校正方法的报告》由TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口上报，TC38SC2（全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析分会）执行，主管部门为国家标准化管理委员会。