摘要:T/IAWBS 011-2019标准2019年12月27日发布2019年12月31日实施,碳化硅作为第三代半导体,在耐高温、耐高压、耐大电流等领域有独特的功能和作用,其技术发展的成熟度越来越高,从原材料到功能模块,已经形成了完整的产业链。碳化硅单晶电阻率的测试,是衡…《导电碳化硅单晶片电阻率测量方法—非接触涡流法》团体名称为中关村天合宽禁带半导体技术创新联盟。
分类:C398 电子元件及电子专用材料制造
更新:2025-01-14最后编辑
名称:T/IAWBS 011-2019 导电碳化硅单晶片电阻率测量方法—非接触涡流法
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