摘要:T/CASAS 026-2023标准2023年06月19日发布2023年06月19日实施,本文件描述了用微波光电导法测定碳化硅少数载流子寿命的方法。本文件适用于少数载流子寿命为20ns~200μs的碳化硅晶片的寿命测定及质量评价。《碳化硅少数载流子寿命测定微波光电导衰减法》团体名称为北京第三代半导体产业技术创新战略联盟。
分类:C398 电子元件及电子专用材料制造
更新:2025-01-17最后编辑
名称:T/CASAS 026-2023 碳化硅少数载流子寿命测定微波光电导衰减法
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