摘要:GB/T 43226-2023标准2023年09月07日发布2024年01月01日实施,此标准规定了宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试的原理、环境条件、仪器设备、试验样品、试验步骤、试验报告。此标准适用于宇航用半导体集成电路单粒子软错误的测试。国家标准《宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法》由TC425(全国宇航技术及其应用标准化技术委员会)归口上报,TC425SC2(全国宇航技术及其应用标准化技术委员会宇航电子分会)执行,主管部门为国家标准化管理委员会。
分类:航空器和航天器工程
更新:2025-01-17最后编辑
名称:GB/T 43226-2023 宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法
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