GB/T 41805-2022

摘要:GB/T 41805-2022标准2022年10月12日发布2023年05月01日实施,此标准描述了采用显微散射暗场成像法对光学元件表面疵病进行定量检测的检测原理、试验条件、仪器设备、样品、检测步骤、试验数据处理和检测报告。此标准适用于平板类双面抛光光学元件表面疵病的长度、宽度、挡光面积以及疵病位置检测。国家标准《光学元件表面疵病定量检测方法 显微散射暗场成像法》由TC103(全国光学和光子学标准化技术委员会)归口上报,TC103SC5(全国光学和光子学标准化技术委员会光学材料和元件分会)执行,主管部门为中国兵器工业集团公司。

分类:玻璃和陶瓷工业

更新:2025-01-17最后编辑

GB/T 41805-2022 光学元件表面疵病定量检测方法  显微散射暗场成像法

名称:GB/T 41805-2022 光学元件表面疵病定量检测方法 显微散射暗场成像法

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