GB/T 41853-2022

摘要:GB/T 41853-2022标准2022年10月12日发布2022年10月12日实施,此标准规定了晶圆键合后键合强度的测量方法,适用于硅-硅共熔键合、硅-玻璃阳极键合等多种晶圆键合方式,以及MEMS工艺、组装流程中相关结构尺寸的键合强度的评估。此标准适用于从十微米到几毫米厚的晶圆间的键合强度测量。国家标准《半导体器件 微机电器件 晶圆间键合强度测量》由TC336(全国微机电技术标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为国家标准化管理委员会。

分类:电子学

更新:2025-01-17最后编辑

GB/T 41853-2022 半导体器件 微机电器件 晶圆间键合强度测量

名称:GB/T 41853-2022 半导体器件 微机电器件 晶圆间键合强度测量

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