摘要:GB/T 40291-2021标准2021年05月21日发布2021年12月01日实施,此标准描述了测量高纯锗晶体基本特征的术语和试验方法。包括电活性杂质净浓度(NA-ND)、深能级杂质中心浓度和晶体学特性。此标准适用于射线和x射线辐射探测器用高纯锗晶体。此锗单晶的电活性杂质中心的净浓度小于1011cm-3,通常是1010cm-3量级。此标准中所列测试方法并非法定方法。但在工业中得到了广泛的应用,并为探测器制造商提供了可验证的信息,满足了制造商的需求。在GB/T 7167-2008和GB/T 11685-2003中给出了完整的组装锗探测器的试验方法。国家标准《核仪器仪表 辐射探测器用高纯度锗晶体 基本特性的测量方法》由TC30(全国核仪器仪表标准化技术委员会)归口上报,TC30SC1(全国核仪器仪表标准化技术委员会通用核仪器和辐射探测器分会)执行,主管部门为国家标准化管理委员会。
分类:能源和热传导工程
更新:2025-01-17最后编辑
名称:GB/T 40291-2021 核仪器仪表 辐射探测器用高纯度锗晶体 基本特性的测量方法
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