GB/T 17421.10-2021

摘要:GB/T 17421.10-2021标准2021年03月09日发布2021年10月01日实施,GB/T17421的本部分规定了与数控机床装配成一体的接触式探测系统(离散点探测模式)测量性能评估的检测程序。本部分不含其他型式的探测系统,如那些用于扫描模式或非接触式的探测系统。用于坐标测量机的机床性能评估也不在本部分范围内,这些性能涉及跟踪能力的问题,明显受机床几何精度影响。本部分规定的机床探测系统检测还可按GB/T16857.2和GB/T16857.5测定。数控机床的接触式探测系统在加工过程中应用如下:——加工前检查工件是否正确安装;——工件的定位和/或校准;——加工后,工件仍在机床上对其进行测量;——机床旋转轴线的定位和定向测量;——切削刀具的设定和测量(刀具半径、长度和偏移);——刀具磨损的测定。注1:本部分主要针对加工中心而言,对于其他类型的机床,如车削和磨削中心,会在本部分以后的版本中涉及。注2:本部分不涉及非接触测量(例如:光学测头),但是会在本部分以后的版本中涉及。国家标准《机床检验通则 第10部分:数控机床探测系统测量性能的测定》由TC22(全国金属切削机床标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为中国机械工业联合会。

分类:机械制造

更新:2025-01-17最后编辑

GB/T 17421.10-2021 机床检验通则 第10部分:数控机床探测系统测量性能的测定

名称:GB/T 17421.10-2021 机床检验通则 第10部分:数控机床探测系统测量性能的测定

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