GB/T 38532-2020

摘要：GB/T 38532-2020标准2020年03月06日发布2021年02月01日实施，此标准规定了用电子背散射衍射法（EBSD）对抛光截面进行平均晶粒尺寸的测定方法，包含与晶体试样中的位置相关的取向、取向差和花样质量因子的测量要求。注1：使用光学显微镜测定晶粒尺寸已为大家普遍接受，与其相比，EBSD具有很多技术优势，如高的空间分辨率和晶粒取向的定量描述等。注2：该方法还可用于一些复杂材料（如双相材料）的晶粒尺寸测量。注3：对变形程度较大的试样进行分析时，需谨慎处理结果。国家标准《微束分析 电子背散射衍射 平均晶粒尺寸的测定》由TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为国家标准化管理委员会。