摘要:GB/T 37406-2019标准2019年05月10日发布2019年12月01日实施,此标准规定了电子封装用球形二氧化硅微粉颗粒球形度、平均球形度及球形度分布的颗粒动态光电投影测试方法。此标准适用于4m~300m的电子封装用球形二氧化硅微粉球形颗粒。国家标准《电子封装用球形二氧化硅微粉球形度的检测方法 颗粒动态光电投影法》由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口上报,TC203SC3(全国半导体设备和材料标准化技术委员会封装分会)执行,主管部门为国家标准化管理委员会。
分类:电子学
更新:2025-01-16最后编辑
名称:GB/T 37406-2019 电子封装用球形二氧化硅微粉球形度的检测方法 颗粒动态光电投影法
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