摘要：SJ/T 11705-2018标准2018年02月09日发布2018年04月01日实施，中文标题为《微电子器件封装的地和电源阻抗测试方法》
分类：信息传输、软件和信息技术服务业
更新：2025-01-16最后编辑
名称：SJ/T 11705-2018 微电子器件封装的地和电源阻抗测试方法
本文来自AI建筑网整理分享，转载链接：https://www.aijianzhu.com/page/182544.html
摘要：SJ/T 11705-2018标准2018年02月09日发布2018年04月01日实施，中文标题为《微电子器件封装的地和电源阻抗测试方法》
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