摘要:GB/T 36613-2018标准2018年09月17日发布2019年01月01日实施,此标准规定了发光二极管芯片(以下简称“芯片”)光参数、直流电参数以及静电放电敏感性的点测条件和点测方法。此标准适用于批量生产的可见光发光二极管正装芯片和薄膜芯片的检测方法。紫外光、红外光发光二极管芯片以及外延片的点测也可参照使用。此标准不适用于发光二极管芯片的热参数和交流特性测试。国家标准《发光二极管芯片点测方法》由339-1(工业和信息化部(电子))归口上报及执行,主管部门为工业和信息化部(电子)。
分类:电子学
更新:2025-01-16最后编辑
名称:GB/T 36613-2018 发光二极管芯片点测方法
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