GB/T 5594.4-2015

摘要：GB/T 5594.4-2015标准2015年05月15日发布2016年01月01日实施，GB/T5594的本部分规定了装置零件、真空电子器件、电阻基体、半导体及集成电路基片等用电子陶瓷材料介电常数和介质损耗角正切值的测试方法。本部分适用于装置零件、真空电子器件、电阻基体、半导体及集成电路基片等用电子陶瓷材料在频率为1MH，温度从室温至500°C条件下的介电常数和介质损耗角正切值的测试。国家标准《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第4部分：介电常数和介质损耗角正切值的测试方法》由339-1（工业和信息化部（电子））归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。