摘要：T/CIE 126-2021标准2021年12月23日发布2022年02月10日实施，本标准给出了磁随机存储(MagneticRandom-AccessMemory;MRAM)芯片测试方法的术语、测试原理、测试环境、测试设备、测试程序等。本标准适用于磁随机存储芯…《磁随机存储芯片测试方法》团体名称为中国电子学会。
分类：I6550 信息处理和存储支持服务
更新：2025-01-15最后编辑
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